да какая разница? на пределе 200к тестера токи мизерные недостаточные для пробоя полупроводников => хоть в впаяном хоть в выпаяном состоянии сопропитивлении будет идентично
да какая разница?
на пределе 200к тестера токи мизерные недостаточные для пробоя полупроводников => хоть в впаяном хоть в выпаяном состоянии сопропитивлении будет идентично